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原子力显微镜的原理及其应用
1、原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2、原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。
3、工作原理 利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
原子力显微镜(AFM)的原理
1、原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)工作原理是利用一个对力敏感的探针针尖与样品之间的相互作用力来实现表面成像的。
2、AFM的工作原理是将一个对微弱力非常敏感的微悬臂一端固定,另一端装上探针,针尖与样品表面轻轻接触,针尖尖端原子与样品表面原子间极微弱的排斥力使微悬臂向上弯曲。
3、原子力显微镜工作原理:利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
原子力显微镜
1、原子力显微镜和扫描电镜的异同点:共同点:都是放大。不同点:1)、原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2、原子力显微镜(Atomic Force Microscope,缩写为AFM)是1986年问世的一种以隧道效应为理论基础的显微镜,是扫描探针显微镜家族中的重要成员。
3、原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。
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